[发明专利]物理量检测装置有效

专利信息
申请号: 201580040266.1 申请日: 2015-06-15
公开(公告)号: CN106662475B 公开(公告)日: 2019-05-10
发明(设计)人: 三木崇裕;余语孝之;星加浩昭 申请(专利权)人: 日立汽车系统株式会社
主分类号: G01F1/684 分类号: G01F1/684
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 31100 代理人: 万捷
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供能够使外壳外形小型化的物理量检测装置。物理量检测装置(300)检测流经主通路(124)内的被测量气体30的多个物理量,其特征在于,具有:外壳(302),其配置在主通路(124)内;电路基板(400),其嵌件成型于外壳(302);以及多个检测传感器(452、453、454、455、456),其分别安装在电路基板(400)的一面和另一面这两个面。
搜索关键词: 物理量 检测 装置
【主权项】:
1.一种物理量检测装置,检测流经主通路内的被测量气体的多个物理量,其特征在于,具有:外壳,其配置在所述主通路内;电路基板,其嵌件成型于该外壳;以及多个检测传感器,其分别安装在该电路基板的一面和另一面这两个面,还具有:第一副通路,其从在所述外壳开口的第一副通路入口将所述被测量气体引入,再从在所述外壳开口的第一副通路出口排出;以及第二副通路,其从在所述外壳开口的第二副通路入口将所述被测量气体引入,再从在所述外壳开口的第二副通路出口排出,所述第一副通路配置有多个所述检测传感器中的至少一个检测传感器,所述第二副通路配置有与所述第一副通路所配置的所述检测传感器不同的至少一个检测传感器,在所述电路基板的一面具有:配置所述检测传感器的检测传感器面区域、以及配置所述检测传感器以外的电路元器件的电路元器件面区域,在所述电路基板的另一面具有与所述电路元器件面区域相对的相对面区域,所述电路基板的另一面的所述相对面区域的至少一部分露出于所述第二副通路。
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