[发明专利]具有ESD元件的半导体装置有效

专利信息
申请号: 201580040741.5 申请日: 2015-07-08
公开(公告)号: CN106575653B 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 理崎智光 申请(专利权)人: 艾普凌科有限公司
主分类号: H01L27/06 分类号: H01L27/06;H01L21/336;H01L21/822;H01L21/8234;H01L27/04;H01L27/088;H01L29/78
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 何欣亭;姜甜
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在ESD元件进行动作时,抑制发热并且以对构成ESD元件的全部晶体管的全部沟道流过一样的电流的方式,用低电阻物质将多指类型的ESD元件的各个晶体管、各个沟道中存在的各种各样的基板电位电气相连,进而设定为与Vss电位不同的电位,从而谋求电流均匀,通过低电压动作抑制发热,提高ESD承受能力。
搜索关键词: 具有 esd 元件 半导体 装置
【主权项】:
一种具有ESD元件的半导体装置,其特征在于,所述ESD元件具有:半导体衬底;P阱,设在所述半导体衬底表面、杂质浓度比所述半导体衬底还高;N型源极及N型漏极,设在所述P阱内的所述半导体衬底表面、杂质浓度比所述半导体衬底还高;P型区域,与所述N型源极接触而设在所述半导体衬底表面、杂质浓度比所述半导体衬底还高;栅极绝缘膜,设在成为所述N型源极与所述N型漏极之间的所述半导体衬底表面;以及栅极电极,设在所述栅极绝缘膜上,所述N型漏极与焊盘电极连接,所述N型源极与较低的一方的电源电位连接,所述N型源极和所述P型区域没有通过电极连接。
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