[发明专利]用于检测介质的高度的传感器在审

专利信息
申请号: 201580040762.7 申请日: 2015-05-28
公开(公告)号: CN107076597A 公开(公告)日: 2017-08-18
发明(设计)人: M.龙达诺;E.奇伊萨;M.佐泽特托;D.坎塔雷里 申请(专利权)人: 埃尔特克有限公司
主分类号: G01F23/26 分类号: G01F23/26
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司72001 代理人: 周春梅,傅永霄
地址: 意大利卡萨*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种用于检测容纳在容器中、特别是箱中的介质的高度的高度传感器,包括被设计成与容器(1)相关联的电容性元件阵列,该电容性元件阵列特别地根据介质(L)的高度的检测轴线(X)而延伸,该电容性元件阵列包括特别地位于具有总体细长的形状的电绝缘基板(20)的面上的多个电极(J1‑Jn),电极(J1‑Jn)特别地沿着检测轴线(X)彼此间隔分开,并且优选地基本上彼此共面;用于使电极(J1‑Jn)相对于容器(1)的内部电绝缘的至少一个绝缘层(16);具有多个输入的控制器(24)。每个电容性元件包括单个电极和彼此共同连接、特别是并行连接的电极组中的至少一个,单个电极或电极组连接至多个输入的相应输入;控制器(24)被预设置成用于辨别与每个电极(J1‑Jn)相关联的电容量值,以便推断存在于容器中的介质的高度。
搜索关键词: 用于 检测 介质 高度 传感器
【主权项】:
一种用于检测介质的高度的高度传感器,所述介质容纳在容器(1)中,特别地容纳在箱中,所述传感器(10)包括:电容性元件阵列,所述电容性元件被设计成与所述容器(1)相关联,特别地被设计成根据所述介质(L)的高度的检测轴线(X)而延伸,所述电容性元件阵列包括多个电极(J1-Jn),所述多个电极(J1-Jn)特别地位于具有总体细长形状的电绝缘基底(20)的面上,所述电极(J1-Jn)特别地沿着所述检测轴线(X)彼此间隔分开,并且优选地基本上彼此共面,至少一个绝缘层(16;16”),所述至少一个绝缘层(16;16”)用于使所述电极(J1-Jn)相对于所述容器(1)的内部电绝缘,控制器(24),所述控制器(24)具有多个输入(IN1‑INn),其中,每个电容性元件包括单个电极(J)和彼此共同连接、特别是并行连接的电极组(J4,J21,J38;J20,J37,Jn)中的至少一个,所述单个电极(J)或所述电极组(J4,J21,J38;J20,J37,Jn)连接至所述多个输入(IN1‑INn)的相应输入(IN),以及其中,所述控制器(24)被预设置成用于辨别与每个电极(J1-Jn)相关联的电容量值,以便推断存在于所述容器(1)中的所述介质(L)的高度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于埃尔特克有限公司,未经埃尔特克有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580040762.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top