[发明专利]针对片上系统(SOC)和系统的低功率调试架构

摘要

在实施例中，针对处理器/片上系统(SoC)等的调试架构包括：中央调试单元，该中央调试单元接收一个或多个功能调试信号，该中央调试单元还被配置为从至少一个固件源、至少一个软件源、和至少一个硬件源接收调试信息，并输出经压缩的调试信息；系统跟踪模块，该系统跟踪模块接收经压缩的调试信息并对经压缩的调试信息进行时间标记；并行跟踪接口，该并行跟踪接口接收经时间标记的经压缩的调试信息，并且对经时间标记的经压缩的调试信息进行并行化；以及，输出单元，该输出单元在多个输出路径中的一个输出路径上输出并行化的经时间标记的经压缩的调试信息。描述并要求保护了其他的实施例。

主权项

一种装置，包括：中央调试单元，所述中央调试单元从多个源接收调试信号，所述多个源包括至少一个硬件源、至少一个固件源、和至少一个软件源；跟踪合并单元，所述跟踪合并单元从所述中央调试单元接收所述调试信号，并且具有仲裁逻辑以在来自所述多个源中的一个或多个源的所述调试信号以及来自多个硬件单元的功能调试信号之间进行选择，所述跟踪合并单元对所选择的调试信号或功能调试信号进行时间标记；并行跟踪接口，所述并行跟踪接口接收经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号，并且对所述经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号进行并行化；串行跟踪接口，所述串行跟踪接口接收所述经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号，并且对所述经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号进行串行化；以及选择单元，所述选择单元从所述中央调试单元接收所述调试信号，并从所述并行跟踪接口接收所述并行化的经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号，并在所述调试信号和所述并行化的经时间标记的所选择的调试信号或功能调试信号中选择一个用于在输出路径上输出，其中所述输出路径将从多个输出路径中被选择。