[发明专利]干涉仪有效
| 申请号： | 201580043188.0 | 申请日： | 2015-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN106716088B | 公开（公告）日： | 2018-11-13 |
| 发明（设计）人： | 马丁·贝尔茨 | 申请（专利权）人： | 马丁·贝尔茨 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J9/02;G01B9/02;G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京五洲洋和知识产权代理事务所(普通合伙) 11387 | 代理人： | 刘春成;荣红颖 |
| 地址： | 德国慕尼黑8*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种干涉仪，包括：第一干涉仪臂及第二干涉仪臂，其中，所述第一干涉仪臂及第二干涉仪臂被配置成：从待成像的原始图像的中心像点出发的第一中心光束穿过所述第一干涉仪臂，从所述待成像的原始图像的所述中心像点出发的第二中心光束穿过所述第二干涉仪臂，其中，所述第一中心光束与所述第二中心光束在穿过所述第一或第二干涉仪臂之后叠加并在所述第一中心光束与所述第二中心光束的叠加点处生成k垂直＝0‑干涉；从所述待成像的原始图像的像点出发的第一光束穿过所述第一干涉仪臂，以及从所述待成像的原始图像的所述像点出发的第二光束穿过所述第二干涉仪臂，其中，所述第一光束与所述第二光束在穿过所述第一或第二干涉仪臂之后重叠于所述第一中心光束与所述第二中心光束的所述叠加点处，以及其中，在所述叠加点处，所述第一光束垂直于所述第一中心光束的波矢分量与所述第二光束垂直于所述第二中心光束的波矢分量相反。本发明还涉及一种用于由使用根据本发明所述的干涉仪测量的图像重建原始图像的方法。本发明又涉及一种用于校准根据本发明所述的干涉仪的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 干涉仪 | ||
【主权项】：
1.一种干涉仪(100)，包括：第一干涉仪臂(150)；及第二干涉仪臂(152)，其中，所述第一干涉仪臂(150)及第二干涉仪臂(150)被配置成：从待成像的原始图像(156)的中心像点(154)出发的第一中心光束(112)穿过所述第一干涉仪臂(150)，从所述待成像的原始图像(156)的所述中心像点(154)出发的第二中心光束(118)穿过所述第二干涉仪臂(152)，其中，所述第一中心光束(112)与所述第二中心光束(118)在穿过所述第一或第二干涉仪臂(150、152)之后叠加并在所述第一中心光束(112)与所述第二中心光束(118)的叠加点(157)处生成k垂直＝0‑干涉,其中，k垂直＝0‑干涉是第一中心光束(112)和第二中心光束(118)的干涉，其中第一中心光束(112)和第二中心光束(118)的波矢具有相同的方向；从待成像的原始图像(156)的像点(158)出发的第一光束(160)穿过所述第一干涉仪臂(150)，以及从所述待成像的原始图像(156)的所述像点(158)出发的第二光束(162)穿过所述第二干涉仪臂(152)，其中，所述第一光束(160)与所述第二光束(162)在穿过所述第一或第二干涉仪臂(150、152)之后重叠于所述第一中心光束(112)与所述第二中心光束(118)的所述叠加点(157)处，以及其中，在所述叠加点(157)处，所述第一光束(160)垂直于所述第一中心光束(112)的波矢分量(164)与所述第二光束(162)垂直于所述第二中心光束(118)的波矢分量(166)相反。
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