[发明专利]断层摄影中的定量暗场成像有效
申请号: | 201580043288.3 | 申请日: | 2015-08-04 |
公开(公告)号: | CN106659449B | 公开(公告)日: | 2020-11-24 |
发明(设计)人: | T·克勒;B·J·布伦德尔 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/00 | 分类号: | A61B6/00;A61B6/03;G01N23/046 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种信号处理装置和一种相关的方法。具体地,所述装置包括新颖的图像重建器以根据干涉投影数据(m)来重建样本的横截面图像。所述重建器(RECON)是基于新的前向模型的,所述新的前向模型考虑相衬信号到暗场信号中的串扰。 | ||
搜索关键词: | 断层 摄影 中的 定量 暗场 成像 | ||
【主权项】:
一种图像信号处理装置(SPS),包括:输入端口(IN),其用于接收干涉测量数据(m),所述干涉测量数据是响应于在投射X射线射束通过要被成像的样本之后所述射束入射在探测器上而在所述探测器处探测到的,所述数据包括相衬信号和暗场信号;重建器(RECON),其被配置为运行图像重建算法以至少将所述暗场信号重建成暗场图像ε,其中,所述重建算法是基于前向模型的,所述前向模型并入了被配置为捕获所述相衬信号到所述暗场信号中的串扰的模型分量;输出端口(OUT),其用于输出至少所重建的暗场图像ε。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦有限公司,未经皇家飞利浦有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580043288.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:双频带SRR加载腔天线
- 下一篇:用于X射线医学成像中的暴露控制的多帧获取