[发明专利]光刻设备和方法有效

专利信息
申请号: 201580043589.6 申请日: 2015-06-25
公开(公告)号: CN106575087B 公开(公告)日: 2018-06-26
发明(设计)人: G·纳齐博格鲁;S·考斯吉恩斯;F·J·J·范鲍克斯台尔;E·范德帕斯奇;A·奈斯特;L·索桑娜 申请(专利权)人: ASML荷兰有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴敬莲
地址: 荷兰维*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 光刻设备包括光学传感器(24)、可移动主体(20)、支撑件、偏转器系统(22)、第一驱动系统和第二驱动系统。可移动主体能够相对于传感器移动。支撑件用于保持传感器。第一驱动系统被设置为使可移动主体相对于传感器移动。第二驱动系统被设置为使第一驱动系统相对于传感器移动。第二驱动系统被设置为使偏转器系统相对于传感器移动。可移动主体的移动引起扰动。偏转器系统被设置为形成用于将扰动反射离开支撑件的偏转区域。
搜索关键词: 驱动系统 传感器移动 可移动主体 偏转器系统 支撑件 光刻设备 扰动 光学传感器 偏转区域 传感器 反射 移动
【主权项】:
1.一种光刻设备,包括:光学传感器(24);可移动主体(20),所述可移动主体能够相对于所述传感器(24)移动;支撑件(48),用于保持所述传感器(24);偏转器系统(22);第一驱动系统(56);第二驱动系统(52);其中所述第一驱动系统(56)被设置为使可移动主体(20)相对于传感器(24)移动,其中所述第二驱动系统(52)被设置为使第一驱动系统(56)相对于传感器(24)移动,其中所述第二驱动系统(52)被设置为使偏转器系统(22)相对于传感器(24)移动,其中所述可移动主体(20)的移动引起扰动,其中所述偏转器系统(22)被设置为形成用于将扰动反射离开支撑件(48)的偏转区域(210)。
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