[发明专利]探头对准在审
| 申请号： | 201580044613.8 | 申请日： | 2015-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN106574938A | 公开（公告）日： | 2017-04-19 |
| 发明（设计）人： | 瓦尔奎里奥·N·卡瓦略 | 申请（专利权）人： | 泰拉丁公司 |
| 主分类号： | G01R1/067 | 分类号： | G01R1/067;G01R1/04;G01R1/073 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 | 代理人： | 戚传江,金洁 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种用于自动测试装置(ATE)的探头，所述探头包括包括粗略对准特征部的外部护罩，所述粗略对准特征部被配置成接收目标设备并将所述目标设备引导到所述外部护罩的内部，其中所述目标设备包括暴露的电引线；以及至少部分地在所述外部护罩内的内部结构。所述内部结构包括用于与所述暴露电引线发生电接触的电连接，并且还包括被配置成将所述目标设备朝所述电触点引导以发生电连接的精细对准特征。 | ||
| 搜索关键词： | 探头 对准 | ||
【主权项】：
一种用于自动测试装置(ATE)的探头，包括：外部护罩，所述外部护罩包括粗略对准特征部，所述粗略对准特征部被配置成接收目标设备并将所述目标设备引导到所述外部护罩的内部，所述目标设备包括暴露的电引线；以及内部结构，所述内部结构至少部分地在所述外部护罩内，所述内部结构包括用于与所述暴露的电引线发生电连接的电触点，所述内部结构包括被配置成将所述目标设备朝所述电触点引导以发生所述电连接的精细对准特征部。
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