[发明专利]雷达料位测量装置有效
| 申请号： | 201580045082.4 | 申请日： | 2015-08-19 |
| 公开（公告）号： | CN107076598B | 公开（公告）日： | 2020-02-14 |
| 发明（设计）人： | 哈拉尔德·法贝尔;阿列克谢·马利诺夫斯基 | 申请（专利权）人： | 恩德莱斯和豪瑟尔欧洲两合公司 |
| 主分类号： | G01F23/284 | 分类号： | G01F23/284 |
| 代理公司： | 11219 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 戚传江;金洁 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于测量容器(8)中材料(9)的料位(10)的基于雷达的料位测量装置(1)，包括电子单元(2)，其中，所述电子单元(2)用于生成发送信号，其中，所述电子单元(2)用于处理接收的信号，所述接收的信号包含所述发送信号的反射的部分，所述反射的部分是从待测量其距离的所述材料(9)的表面(10)反射的，其中，所述电子单元包括信号发生器(3)以生成频率调制的发送信号，其中，所述电子单元(2)包括处理器以用于使用在所述接收的信号中包含的相位信息来处理所述接收的信号，并且其中所述雷达装置(1)包括布置在所述容器(8)内的共轴波导探头(7)，其中所述共轴波导探头(7)用于引导所述发送信号(TX)和所述接收的信号(RX)。 | ||
| 搜索关键词： | 雷达 测量 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于测量容器(8)中材料(9)的料位(10)的基于雷达的料位测量装置(1)，包括：/n电子单元(2)，/n其中，所述电子单元(2)用于生成发送信号，/n其中，所述电子单元(2)用于处理接收的信号，/n所述接收的信号包含所述发送信号的反射的部分，/n所述反射的部分是从待测量其距离的所述材料(9)的表面(10)反射的，以及/n共轴波导探头(7)，其中所述共轴波导探头(7)用于引导所述发送信号(TX)和所述接收的信号(RX)/n其特征在于，所述电子单元包括信号发生器(3)以生成频率调制的发送信号，/n在于，所述电子单元(2)包括处理器，用于使用所述接收的信号中包含的相位信息来处理所述接收的信号，/n在于，所述处理器计算作为所述材料(9)的所述表面(10)的所述距离的函数的所述接收的信号(RX)的期望相位响应，/n在于，所述处理器确定所述接收的信号(RX)在所述接收的信号(RX)的频率峰值(X)处的相位，其中所述频率峰值(X)对应所述距离，并且在于，所述处理器将所述确定的相位与所述距离处的所述期望相位响应进行比较。/n
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