[发明专利]真空开关的压力诊断装置或真空开关装置有效

专利信息
申请号: 201580046984.X 申请日: 2015-03-13
公开(公告)号: CN106796853B 公开(公告)日: 2018-09-18
发明(设计)人: 佐藤和弘;森田步;浦井一;土屋贤治 申请(专利权)人: 株式会社日立产机系统
主分类号: H01H33/668 分类号: H01H33/668
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 龙淳;徐飞跃
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明目的在于提供能够使真空开关小型化,提高搭载真空开关的开关装置的安全、可靠性的真空开关的压力诊断装置。为了实现该目的,本发明是进行真空开关的压力诊断的压力诊断装置,其中,真空开关配置有内部为真空的真空容器、配置在真空容器内的可相互接触分离的多个触点(10、11)和与触点(10、11)电绝缘的浮置电位金属(6),压力诊断装置包括:将多个绝缘物(13、14)至少部分地串联连接而构成的绝缘物组;和连接于多个绝缘物(13、14)之间的电位检测器(15),上述绝缘物组中的位于靠近浮置电位金属(6)的一侧的至少一个绝缘物(13)与浮置电位金属(6)的距离在诊断压力时以变短的方式变化,上述绝缘物组中的与位于靠近浮置电位金属(6)的一侧的至少一个绝缘物(13)不同的绝缘物(14)在诊断压力时与电位固定点连接。
搜索关键词: 真空开关 压力 诊断 装置
【主权项】:
1.一种真空开关的压力诊断装置,其进行真空开关的压力诊断,所述真空开关配置有内部为真空的真空容器、配置在所述真空容器内的可相互接触分离的多个触点和与所述触点电绝缘的浮置电位金属,所述真空开关的压力诊断装置的特征在于,包括:将多个绝缘物至少部分地串联连接而构成的绝缘物组;和连接于多个所述绝缘物之间的电位检测器,所述绝缘物组中的位于靠近所述浮置电位金属的一侧的至少一个绝缘物与所述浮置电位金属的距离,在诊断压力时以变短的方式变化,所述绝缘物组中的与位于靠近所述浮置电位金属的一侧的至少一个绝缘物不同的所述绝缘物,在诊断压力时与电位固定点连接,位于靠近所述浮置电位金属的一侧的所述绝缘物的前端,至少在靠近所述浮置电位金属时,由相对介电常数比所述绝缘物的相对介电常数低的绝缘物覆盖。
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