[发明专利]检测缓冲垫的变形的系统及其制造方法在审
申请号: | 201580047230.6 | 申请日: | 2015-06-15 |
公开(公告)号: | CN106796096A | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 福田武司;太田贵启 | 申请(专利权)人: | 东洋橡胶工业株式会社 |
主分类号: | G01B7/00 | 分类号: | G01B7/00;A47C7/18;A47C7/62;A47C27/15;B29C39/10;B29C39/24;B60N2/44;B29K75/00;B29K105/04;B29L31/58 |
代理公司: | 北京北翔知识产权代理有限公司11285 | 代理人: | 侯婧,钟守期 |
地址: | 日本大阪*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明的目的是获得提高缓冲垫的耐久性,同时不产生异物感的变形检测系统。本发明提供一种检测缓冲垫的变形的系统及其制造方法,所述系统包含缓冲垫及检测由该缓冲垫的变形所引起的电或磁性变化的检测部,所述缓冲垫包含分散有导电性填料或磁性填料的基质层和在一部分嵌入了该基质层的软质聚氨酯发泡体;其特征为所述基质层的硬度小于软质聚氨酯发泡体的硬度。 | ||
搜索关键词: | 检测 缓冲 变形 系统 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种检测缓冲垫的变形的系统,其包含:缓冲垫及检测由该缓冲垫的变形所引起的电或磁性变化的检测部,所述缓冲垫包含分散有具有导电性或磁性的填料的基质层和在一部分嵌入了该基质层的软质聚氨酯发泡体;其特征在于,所述基质层的硬度小于软质聚氨酯发泡体的硬度。
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