[发明专利]时间测量装置、时间测量方法、发光寿命测量装置及发光寿命测量方法有效

专利信息
申请号: 201580047263.0 申请日: 2015-07-22
公开(公告)号: CN106716266B 公开(公告)日: 2019-11-26
发明(设计)人: 北泽健;西泽充哲;伊东孝 申请(专利权)人: 浜松光子学株式会社
主分类号: G04F10/06 分类号: G04F10/06;G01N21/64
代理公司: 11322 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 杨琦<国际申请>=PCT/JP2015/
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 时间测量装置是将自第1触发信号被输入起至第2触发信号被输入为止的时间作为测量时间来计算的时间测量装置,具备:启动闸门,其生成启动信号;终止闸门,其生成终止信号;TDC电路,其生成相当于自启动信号被输入起至终止信号被输入为止的时间的数字码;延迟电路,其使启动信号及终止信号的至少一方的向TDC电路的输入以规定的延迟时间延迟;及控制部,其基于由TDC电路生成的多个数字码,计算测量时间,延迟电路选择至少2个延迟时间。
搜索关键词: 时间 测量 装置 测量方法 发光 寿命
【主权项】:
1.一种时间测量装置,其特征在于,/n是将自第1触发信号被输入起至第2触发信号被输入为止的时间作为测量时间来计算的时间测量装置,/n具备:/n第1信号生成部,其根据所述第1触发信号而生成第1信号;/n第2信号生成部,其根据所述第2触发信号而生成第2信号;/n数字转换部,其接收所述第1信号及所述第2信号的输入,生成相当于自所述第1信号被输入起至所述第2信号被输入为止的时间的数字信号;/n时间延迟部,其使所述第1信号及所述第2信号的至少一方的向所述数字转换部的输入以自预先设定的多个延迟时间选择的延迟时间延迟;及/n时间计算部,其基于多个所述数字信号而计算所述测量时间,/n所述时间延迟部选择至少2个延迟时间,/n所述时间延迟部一边经时切换自所述多个延迟时间选择的延迟时间一边使所述第1信号及所述第2信号的至少一方的向所述数字转换部的输入延迟。/n
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