[发明专利]用于检测在第一阶指令高速缓冲存储器中的恶意代码的集成电路和方法有效
| 申请号： | 201580049149.1 | 申请日： | 2015-08-26 |
| 公开（公告）号： | CN107077424B | 公开（公告）日： | 2018-09-25 |
| 发明（设计）人： | B·M·雅各布松 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F12/0811 | 分类号： | G06F12/0811;G06F12/0875;G06F12/0897;G06F12/14 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 宋献涛 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明提供一种集成电路，其可包括：处理器；第一阶指令高速缓冲存储器，其具有第一存储容量；和第二阶高速缓冲存储器，其具有大于所述第一存储容量的第二存储容量。所述第一阶指令高速缓冲存储器经配置以存储所述第二阶高速缓冲存储器中所存储的指令的子集。所述第二阶高速缓冲存储器经配置以存储外部存储器中所存储的数据和指令的子集。所述处理器执行检测例程的内部循环，且监测所述内部循环的执行时间以检测所述第一阶指令高速缓冲存储器中的恶意代码。检测例程指令的总数大于所述第一存储容量。所述内部循环需要从所述第二阶高速缓冲存储器提取检测例程指令，且在所述内部循环的执行期间执行的指令的执行数目小于所述第一存储容量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 一阶 指令 高速 缓冲存储器 中的 恶意代码 集成电路 方法 | ||
【主权项】：
1.一种用于检测隐藏于第一阶指令高速缓冲存储器中的恶意代码的集成电路，其包括：处理器；所述第一阶指令高速缓冲存储器，其具有第一存储容量；和第二阶高速缓冲存储器，其具有大于所述第一存储容量的第二存储容量；所述第一阶指令高速缓冲存储器耦合于所述处理器与所述第二阶高速缓冲存储器之间，所述第一阶指令高速缓冲存储器经配置以存储所述第二阶高速缓冲存储器中所存储的指令的子集，所述第二阶高速缓冲存储器耦合于所述第一阶指令高速缓冲存储器与外部存储器之间，所述第二阶高速缓冲存储器经配置以存储所述外部存储器中所存储的数据和指令的子集，且所述处理器经配置以执行检测例程的内部循环，监测所述内部循环的执行时间，且比较所述所监测的执行时间与执行时间阈值以检测隐藏于所述第一阶指令高速缓冲存储器中的恶意代码，其中用于检测例程指令的总数的代码大于所述第一存储容量，其中在执行期间所述内部循环需要从所述第二阶高速缓冲存储器提取检测例程指令，且其中基于执行所述检测例程指令的选定代码，用于在所述内部循环的执行期间执行的指令的执行数目的代码小于所述第一存储容量。
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