[发明专利]通过氧化还原耦合的质量检测有效
| 申请号： | 201580049670.5 | 申请日： | 2015-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN107003302B | 公开（公告）日： | 2021-11-05 |
| 发明（设计）人： | M.萨尔瓦蒂;I.R.哈蒙 | 申请（专利权）人： | QORVO美国公司 |
| 主分类号： | G01N33/53 | 分类号： | G01N33/53 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 林毅斌;周齐宏 |
| 地址： | 美国北卡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 分析物氧化还原与沉淀前体氧化还原耦合，产生在薄膜体声波谐振(TFBAR)表面上沉淀的沉淀分子，以允许质量检测沉淀分子作为分析物的替代。本公开尤其描述用在高频率操作的TFBAR检测分析物，而不用使分析物直接结合到TBAR表面上。分析物检测是间接的，用沉淀分子作为分析物的替代。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 氧化 还原 耦合 质量 检测 | ||
【主权项】：
一种检测样品中分析物的方法，所述方法包括：在薄膜体声波谐振器(TFBAR)表面附近引入混合物，所述混合物包含氧化还原分析物、一种或多种中间电子转移剂、可溶沉淀前体和任选或如需要的一种或多种氧化还原辅因子，其中氧化还原分析物在一种或多种中间电子转移剂、任选或所需辅因子和可溶沉淀前体存在下引起可溶沉淀前体的氧化还原，以产生在TFBAR表面上沉淀的沉淀分子；并且测定在TFBAR表面增加的质量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于QORVO美国公司，未经QORVO美国公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580049670.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：庭院灯（拱廊）
- 下一篇：壁灯(H6ZY26)
