[发明专利]测试装置用的接触探针在审

专利信息
申请号: 201580049865.X 申请日: 2015-09-18
公开(公告)号: CN106716145A 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 朴商德;全哉映 申请(专利权)人: 李诺工业股份有限公司
主分类号: G01R1/067 分类号: G01R1/067
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司11205 代理人: 杨贝贝,臧建明
地址: 韩国釜山市江西*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明揭示一种用于高电流的接触探针,其电连接待测物件的接点与测试电路的接点。接触探针包含经设置以与待测物件的接点接触的第一杵棒;经设置以与测试电路的接点接触的第二杵棒;经设置以支撑第一杵棒与第二杵棒中的至少一者在其中滑动的桶身;以及安置在桶身内且介于第一杵棒与第二杵棒之间的弹簧,其中第一杵棒与第二杵棒之中的一者含有容纳弹簧一端的开孔,第一杵棒与第二杵棒之中的另一者包含将被开孔所容纳的主干,且在弹簧因完成测试而回复原状后,主干的自由端至少配置在开孔内。
搜索关键词: 测试 装置 接触 探针
【主权项】:
一种接触探针,其电连接待测物件的接点与测试电路的接点,其特征在于,所述接触探针包括:第一杵棒,经设置以与所述待测物件的所述接点接触;第二杵棒,经设置以与所述测试电路的所述接点接触;桶身,经设置以支撑所述第一杵棒与所述第二杵棒中的至少一者在其中滑动;以及弹簧,设置在所述桶身内且介于所述第一杵棒与所述第二杵棒之间,其中所述第一杵棒与所述第二杵棒中的一者包含开孔以容纳所述弹簧的一端,且所述第一杵棒与所述第二杵棒中的另一者包含将容纳于所述开孔中的主干。
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