[发明专利]内窥镜装置有效
申请号: | 201580049957.8 | 申请日: | 2015-09-08 |
公开(公告)号: | CN106714660B | 公开(公告)日: | 2018-12-28 |
发明(设计)人: | 田中哲史;高桥智也;正木隆浩;本江和惠 | 申请(专利权)人: | 奥林巴斯株式会社 |
主分类号: | A61B1/06 | 分类号: | A61B1/06;G02B23/26 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;于靖帅 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 内窥镜装置(1)具有存储器(41a),该存储器(41a)保存有表示由光传感器(43b)检测的强度的目标值与由光传感器(42b)检测的强度的目标值之间的关系的信息和由光传感器(43b)检测的强度的最小值。而且,内窥镜装置(1)具有控制部(41),该控制部(41)根据来自光传感器(43b)的强度和存储器(41a)的信息,计算由光传感器(42b)检测的目标值,判定由光传感器(43b)检测的强度是否在保存于存储器(41a)中的最小值以上,当判定为由光传感器(43b)检测的强度在最小值以上的情况下,控制LED(42)的驱动以使得由光传感器(43b)检测的强度成为所计算出的目标值,当判定为由光传感器(43b)检测的强度小于最小值的情况下,一边将电流值保持为规定的值一边变更脉冲的占空比或数量来控制LED(43)和LED(42)。 | ||
搜索关键词: | 内窥镜 装置 | ||
【主权项】:
1.一种内窥镜装置,其特征在于,该内窥镜装置具有:第一半导体发光元件,其产生第一波长;第二半导体发光元件,其产生与第一波长不同的第二波长的光;第一检测部,其接受从所述第一半导体发光元件产生的所述第一波长的光的一部分并检测强度;第二检测部,其接受从所述第二半导体发光元件产生的所述第二波长的光的一部分并检测强度;存储器,其保存表示所述第一检测部所检测的强度的目标值与所述第二检测部所检测的强度的目标值之间的关系的信息、以及所述第一检测部所检测的强度的最小值;计算部,其根据所述第一检测部所检测的强度和保存于所述存储器中的信息,计算与所述第一检测部所检测的强度对应的所述第二检测部所检测的目标值;判定部,其判定所述第一检测部所检测的强度是否在保存于所述存储器中的所述最小值以上;以及光量控制部,当所述判定部判定为所述第一检测部所检测的强度在所述最小值以上的情况下,该光量控制部控制所述第二半导体发光元件的驱动以使得所述第二检测部所检测的强度成为所述计算部所计算出的目标值,在所述判定部判定为所述第一检测部所检测的强度小于所述最小值的情况下,该光量控制部一边将电流值保持为规定的值一边变更脉冲的占空比或者数量来控制所述第一半导体发光元件和所述第二半导体发光元件。
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