[发明专利]短路检测及反转在审

专利信息
申请号: 201580051642.7 申请日: 2015-09-29
公开(公告)号: CN106716374A 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: T·安德烈;J·斯劳特;D·豪撒梅迪恩;S·M·阿拉姆 申请(专利权)人: 艾沃思宾技术公司
主分类号: G06F11/10 分类号: G06F11/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 代理人: 申发振
地址: 美国亚*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在一些示例中,存储器设备可以被配置为至少部分基于与一个或多个短路位单元相关联的状态来以原始状态或反转状态存储数据。例如,存储器设备可以被配置为识别在存储器阵列内的短路位单元并将数据存储于存储器阵列中,使得存储于短路位单元内的数据位的状态与和短路位单元相关联的状态相匹配。
搜索关键词: 短路 检测 反转
【主权项】:
一种存储器设备,包括:具有多个位单元的存储器阵列;短路检测构件,配置为识别所述存储器阵列的所述多个位单元中的至少一个短路位单元;以及反转构件,配置为接收要存储于所述存储器阵列中的多个数据位,并且至少部分基于所述多个数据位中的要存储于所述至少一个短路位单元内的数据位的状态来反转所述多个数据位。
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