[发明专利]用于工件的单点扫描的方法和坐标测量机有效
申请号: | 201580052491.7 | 申请日: | 2015-08-20 |
公开(公告)号: | CN107076552B | 公开(公告)日: | 2021-12-14 |
发明(设计)人: | G.格鲁普;O.拉克;E.奥伯尔 | 申请(专利权)人: | 卡尔蔡司工业测量技术有限公司 |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邱军 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种通过坐标测量机(10)的传感器(16)进行工件(12)的单点扫描的方法,所述传感器特别是触觉传感器,所述方法包括以下步骤:提供至少间接表示单点扫描的所需精确度的变量;提供参数数据集(48),其中参数数据集(48)具有用于以所需精确度来调节和/或评估单点扫描的方案;以及执行工件(12)的单点扫描,其中基于所提供的参数数据集(48)来调节坐标测量机(10)和/或基于所提供的参数数据集(48)来执行评估(10)。此外,提出了一种用于工件(12)的单点扫描的坐标测量机(10)。 | ||
搜索关键词: | 用于 工件 单点 扫描 方法 坐标 测量 | ||
【主权项】:
一种通过坐标测量机(10)的传感器(16)进行工件(12)的单点探测的方法(70),所述传感器特别是触觉传感器,所述方法包括以下步骤:(72)提供变量,所述变量至少间接表示所述单点探测的所需精确度;(74)提供参数数据集(48),其中所述参数数据集(48)具有用于以所述所需精确度来调节和/或评估所述单点探测的方案;以及(76)执行所述工件(12)的所述单点探测,其中基于所提供的参数数据集(48)来调节所述坐标测量机(10)和/或基于所提供的参数数据集(48)来执行评估(10)。
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