[发明专利]抗缺陷形成的多层中间层有效

专利信息
申请号: 201580053751.2 申请日: 2015-09-23
公开(公告)号: CN107107564B 公开(公告)日: 2019-04-16
发明(设计)人: 吕军 申请(专利权)人: 首诺公司
主分类号: B32B17/10 分类号: B32B17/10;B32B27/08
代理公司: 北京市万慧达律师事务所 11111 代理人: 吴晓辉;段晓玲
地址: 美国密*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了一种多层化中间层,其包括硬的皮层和软的核心层。所述多层化中间层包括:第一聚合物层(皮层),其包括增塑的聚(乙烯醇缩丁醛)树脂;第二聚合物层(核心层),其包括两种或多种具有不同残余羟基含量的增塑聚(乙烯醇缩丁醛)树脂的共混物,其中所述增塑剂是具有至少约1.460折射率的高折射率增塑剂;和任选地,第三聚合物层(皮层),其包括增塑的聚(乙烯醇缩丁醛)树脂。
搜索关键词: 缺陷 形成 多层 中间层
【主权项】:
1.一种抗冰花纹缺陷形成的聚合物中间层,所述聚合物中间层包括:至少一个软层,其中所述软层包括:具有第一残余羟基含量的第一聚(乙烯醇缩丁醛)树脂;具有第二残余羟基含量的第二聚(乙烯醇缩丁醛)树脂,其中所述第一残余羟基含量和所述第二残余羟基含量之间的差值为至少2.0wt.%;和高折射率增塑剂,其具有至少1.460的折射率;至少一个较硬的层,其包括具有第三残余羟基含量的第三聚(乙烯醇缩丁醛)树脂;和增塑剂,其中所述聚合物中间层具有至少0.15的阻尼损耗因子(η)和低于1.0%的百分比雾度,其中,所述阻尼损耗因子(η)通过ISO 16940测量,所述百分比雾度根据ASTM D1003‑61(1977年重新核准)‑程序A使用光源C以2度观察角通过雾度测量仪测量。
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