[发明专利]对用于探测颗粒的传感器进行功能监控的方法有效

专利信息
申请号: 201580054592.8 申请日: 2015-08-13
公开(公告)号: CN106796167B 公开(公告)日: 2019-11-19
发明(设计)人: B.加尔特纳;A.蒂伊芬巴奇;M.克伦克 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: G01N15/06 分类号: G01N15/06
代理公司: 72001 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 胡莉莉;杜荔南<国际申请>=PCT/EP
地址: 德国斯*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 提出了一种对用于探测颗粒、尤其是炭黑的传感器(10)进行功能监控的方法,其中所述传感器(10)具有至少两个测量电极(20、22)和一个所述测量电极(20、22)被布置在其上的衬底(18)。该方法包括如下步骤:执行第一电流‑电压测量以用于确定第一测量参量;执行第二电流‑电压测量以用于确定第二测量参量,其中所述测量电极(20、22)中的一个测量电极(22)被置于另一电位(50);执行第三电流‑电压测量以用于确定第三测量参量;以及形成校正值以用于借助于第一测量参量和第三测量参量来校正第二测量参量。
搜索关键词: 用于 探测 颗粒 传感器 进行 功能 监控 方法
【主权项】:
1.一种对用于探测颗粒的传感器(10)进行功能监控的方法,其中,所述传感器(10)具有至少两个测量电极(20、22)和一个所述测量电极(20、22)被布置在其上的衬底(18),其中所述方法包括如下步骤:/n- 通过测量所述测量电极(20、22)之间的电流,执行第一电流-电压测量以用于确定第一测量参量;/n- 通过测量所述测量电极(20、22)之间的电流,执行第二电流-电压测量以用于确定第二测量参量,其中所述测量电极(20、22)中的一个测量电极(22)被置于另一电位(50);/n- 通过测量所述测量电极(20、22)之间的电流,执行第三电流-电压测量以用于确定第三测量参量;以及/n- 借助于所述第一测量参量和所述第三测量参量形成用于来校正所述第二测量参量的校正值,/n其中,所述第一电流-电压测量在所述第二电流-电压测量之前予以执行,而所述第三电流-电压测量在所述第二电流-电压测量之后予以执行,/n其中,所述校正值基于所述第一测量参量和所述第三测量参量的衰减特性来确定,/n其中,所述传感器(10)此外还具有加热元件(14),其中所述方法在所述加热元件(14)运行时予以执行。/n
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