[发明专利]在容器中成像的样品微层析成像中的射束硬化伪像的校正有效
| 申请号： | 201580054727.0 | 申请日： | 2015-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN107209944B | 公开（公告）日： | 2021-08-10 |
| 发明（设计）人： | J·J·霍尔特;A·M·金斯顿;A·P·谢泼德 | 申请（专利权）人： | FEI公司 |
| 主分类号： | G06T11/00 | 分类号： | G06T11/00 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 郑勇 |
| 地址： | 美国俄*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 提供了改进的无参考多种材料射束硬化校正的方法，重点是保持地质材料真实成像的数据质量的同时实现了自动化。提供了一种无参考后重建(RPC)校正技术，其在积分衰减空间应用校正。也提供了仅有容器的预校正技术来允许射束硬化校正方法所需要的分割过程的自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 容器 成像 样品 层析 中的 硬化 校正 | ||
【主权项】：
一种用于射束硬化的层析重建的校正方法，所述方法包括：(a)从层析投影数据中重建出初始层析图像；(b)将层析图像分割成两个或多个相位；(c)基于已分割的层析图像，在积分衰减空间计算无参考后重建校正(RPC)；(d)对层析投影数据应用RPC校正来校正射束硬化效应；(e)从校正的层析投影数据中重建出最终的层析图像。
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