[发明专利]用于测量温度的方法和装置在审
| 申请号： | 201580057068.6 | 申请日： | 2015-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN107076616A | 公开（公告）日： | 2017-08-18 |
| 发明（设计）人： | F.乌特默伦;F.亨里齐 | 申请（专利权）人： | 罗伯特·博世有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/34 | 分类号： | G01J5/34 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司72001 | 代理人： | 李永波,宣力伟 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于在使用具有作为电容来连接的金属‑绝缘体‑半导体结构的传感器下测量温度（T1，T2）的方法，所述金属‑绝缘体‑半导体结构则具有取决于温度的自动放电（112）。所述方法包括在使用在测量时刻（114）加载在所述电容上的电位（116，118）下确定代表着所述传感器的温度（T1，T2）的温度信息的步骤。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 温度 方法 装置 | ||
【主权项】：
用于在使用具有作为电容（304）来连接的金属‑绝缘体‑半导体结构的传感器（302）下测量温度（T1，T2）的方法（200），所述金属‑绝缘体‑半导体结构具有取决于温度的自动放电（112），其中所述方法（200）具有以下步骤：在使用在测量时刻（114）加载在所述电容（304）上的电位（116，118）下确定（202）代表着所述传感器（302）的温度（T1，T2）的温度信息（314）。
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