[发明专利]确定被修饰化合物的身份

摘要

使用数据独立采集法获得样本产物离子谱。检索已知化合物的产物离子的已知m/z值。由所述样本产物离子谱生成产物离子XIC。按照保留时间将所述生成的产物离子XIC的XIC峰进行分组。选择一组XIC峰。通过获得所述所选XIC峰组的每个谱中每个单一同位素峰，为所述XIC峰组创建m/z峰列表。从所述m/z峰列表中去除与所述已知m/z值匹配的值。对于所述m/z峰列表中的每个值，计算其与所述已知m/z值的m/z差值。将所述m/z差值分组并对每组中的m/z差值的数量进行计数。如果m/z差值组的计数超过预定计数，那么检测修饰形式。

主权项

1.一种由串联质谱数据检测样本中已知目标化合物的修饰形式的产物离子的系统，其包括：处理器，其(a)接收多个样本产物离子谱，所述多个样本产物离子谱通过以下产生：用分离装置随时间推移从样本中分离已知化合物，并且在每个时间步骤，用串联质谱仪为所述样本的质量范围内选择的多个前体质量选择窗进行多个产物离子扫描来分析所述已知化合物，(b)从存储器中检索所述已知化合物的至少一种化合物的产物离子的已知质荷比m/z值，(c)由所述多个样本产物离子谱中包含与所述已知m/z值匹配的m/z峰的产物离子谱生成产物离子提取离子色谱图XIC，(d)按照保留时间将所述生成的产物离子XIC的XIC峰分组，产生多个XIC峰组，(e)选择所述多个XIC峰组中的至少一个XIC峰组，(f)通过获得用于生成所述至少一个XIC峰组的所述XIC峰的每个谱中每个单一同位素峰的m/z值，为所述至少一个XIC峰组创建m/z峰列表，(g)从所述m/z峰列表中去除与所述已知m/z值匹配的m/z值，(h)对于所述m/z峰列表中剩余的每个m/z值，计算所述峰列表m/z值与所述已知产物离子的所述m/z值的每个m/z值之间的m/z差值，产生多个m/z差值，(i)将所述多个m/z差值中具有相同m/z值的m/z差值分成一组，并对每组中的m/z差值的数量进行计数，产生多个m/z差值组，每组包含计数，以及(j)如果所述多个m/z差值组中的m/z差值组的计数超过了预定计数，那么检测在所述m/z差值组的所述m/z值处的所述至少一种化合物的修饰形式的产物离子。