[发明专利]高电压重置MEMS麦克风网络和检测其缺陷的方法有效
申请号: | 201580060812.8 | 申请日: | 2015-09-10 |
公开(公告)号: | CN107079224B | 公开(公告)日: | 2020-01-21 |
发明(设计)人: | M.泽莱兹尼克 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | H04R19/00 | 分类号: | H04R19/00 |
代理公司: | 72001 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 毕铮;杜荔南 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | 一种检测MEMS麦克风传感器接口电路的高阻抗网络中的缺陷的方法。该方法包括向高电压高阻抗网络添加高电压重置开关,在MEMS麦克风传感器接口电路的启动阶段期间闭合高电压重置开关,在启动阶段期间同时闭合低电压高阻抗网络的低电压重置开关,在启动阶段的结尾处使高电压重置开关和低电压重置开关同时开路,以及在使高电压重置开关和低电压重置开关开路之后立即检测高电压高阻抗网络或低电压高阻抗网络中的缺陷。 | ||
搜索关键词: | 电压 重置 mems 麦克风 网络 检测 缺陷 方法 | ||
【主权项】:
1.一种检测MEMS麦克风传感器接口电路的高阻抗网络中的缺陷的方法,所述方法包括:/n向高电压高阻抗网络添加高电压重置开关;/n在MEMS麦克风传感器接口电路的启动阶段期间闭合高电压重置开关;/n在启动阶段期间闭合低电压高阻抗网络的低电压重置开关;/n在启动阶段的结尾处使高电压重置开关和低电压重置开关同时开路;以及/n在使高电压重置开关和低电压重置开关开路之后立即检测高电压高阻抗网络或低电压高阻抗网络中的缺陷。/n
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