[发明专利]源-检测器布置结构有效

专利信息
申请号: 201580060997.2 申请日: 2015-11-10
公开(公告)号: CN106999125B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: T·克勒;E·勒斯尔;R·K·O·贝林;P·B·T·诺埃尔;F·普法伊费尔 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00;A61B6/03
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 蔡洪贵
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备(10)的源‑检测器布置结构(11)。所述源‑检测器布置结构包括:X射线源(12),所述X射线源适于相对于对象(140)围绕旋转轴线(R)旋转移动并且适于发射呈线条图案(21)的相干或准相干辐射的X射线束;以及X射线检测系统(16),所述X射线检测系统包括第一光栅元件(24)和第二光栅元件(26)以及检测器元件(6);其中所述辐射的所述线条图案和所述光栅元件的光栅方向被布置成正交于所述旋转轴线;并且所述第一光栅元件具有依赖于所述X射线束的锥角(β)而变化的第一光栅节距和/或所述第二光栅元件具有依赖于所述X射线束的所述锥角而变化的第二光栅节距。
搜索关键词: 检测器 布置 结构
【主权项】:
用于光栅型相位衬度计算机断层扫描的X射线设备(10)的源‑检测器布置结构(11),所述源‑检测器布置结构包括:X射线源(12),所述X射线源适于相对于对象(140)围绕旋转轴线(R)旋转移动并且适于发射呈线条图案(21)的相干或准相干辐射的X射线束;以及X射线检测系统(16),所述X射线检测系统包括第一光栅元件(24)和第二光栅元件(26)以及检测器元件(6);其中所述辐射的所述线条图案和所述光栅元件的光栅方向被布置成正交于所述旋转轴线;并且所述第一光栅元件具有依赖于所述X射线束的锥角(β)而变化的第一光栅节距和/或所述第二光栅元件具有依赖于所述X射线束的所述锥角而变化的第二光栅节距。
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