[发明专利]密度测量系统及方法有效

专利信息
申请号: 201580061229.9 申请日: 2015-09-11
公开(公告)号: CN107110804B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 邱昌华;肯尼思·普丽姆罗丝 申请(专利权)人: 工业层析成像系统公司
主分类号: G01N27/02 分类号: G01N27/02;G01N9/00;G01N33/28
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 彭愿洁;彭家恩
地址: 英国曼*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明公开了一种用于测量一个区域内的材料密度的密度测量系统。该密度测量系统包括:被布置在该区域周围的多个电极;被布置为将电信号施加到至少一个电极中的激励源;被布置为监测至少一个电极的电参数的监测器,所监测的电参数响应于该区域内的电流流动而变化;以及处理器,其被布置为:基于所监测的电参数生成指示区域内的材料的复阻抗的数据;并且基于指示材料的复阻抗的数据生成指示材料密度的数据。
搜索关键词: 密度 测量 系统 方法
【主权项】:
一种浆料密度测量系统,用于测量一个区域内的浆料密度,所述浆料密度测量系统包括:多个电极,所述多个电极被布置在所述区域周围;激励源,所述激励源被布置为将电信号施加到至少一个所述电极中;监测器,所述监测器被布置为监测至少一个所述电极的电参数,所述监测的电参数响应于所述区域内的电流流动而发生变化;以及处理器,所述处理器被布置为:基于所述监测的电参数,生成指示所述区域内所述浆料的复阻抗的数据;以及基于指示所述浆料的复阻抗的数据生成指示所述浆料的浆料密度的数据。
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