[发明专利]投影设备以及用于逐像素地投影图像的方法有效

专利信息
申请号: 201580065331.6 申请日: 2015-11-23
公开(公告)号: CN107005684B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: A·埃勒特;N·迪特里希;F·施密特;G·皮拉德 申请(专利权)人: 罗伯特·博世有限公司
主分类号: H04N9/31 分类号: H04N9/31
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 郭毅
地址: 德国斯*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提出用于逐像素地投影图像(50)的一种方法和一种投影设备。所述投影设备借助以下设备构造:用于逐像素地投影图像(50)的投影设备、用于逐像素地发射可见光(32)的光二极管装置(12)、用于逐像素地发射红外辐射(34)的红外二极管装置(14)、用于逐像素地检测反射的可见光(42)的和反射的红发辐射(44)的反射强度并且用于基于所检测的反射强度逐像素地产生实际反射强度测量信号的辐射强度检测装置(16);和控制装置(18),所述控制装置构造用于相应于所述待投影图像(50)操控逐像素地发射所述可见光(32)的所述光二极管装置(12);并且所述控制装置还构造用于基于所述待投影图像(50)并且基于反射模型逐像素地发射所述红发辐射(34)地如此控制所述红外二极管装置(14),使得对于所述实际反射强度测量信号而言逐像素预期的期望反射强度测量信号对于预确定的像素(54)具有预确定的值。
搜索关键词: 投影设备 以及 用于 像素 投影 图像 方法
【主权项】:
一种用于逐像素地投影图像(50)的投影设备,该投影设备具有:用于逐像素地发射可见光(32;32‑1;32‑2;32‑3)的光二极管装置(12);用于逐像素地发射红外辐射(34)的红外二极管装置(14);辐射强度检测装置(16),其用于逐像素地检测反射的可见光(42;42‑1,42‑2,42‑3)的和反射的红外辐射(44)的反射强度并且用于基于所检测的反射强度逐像素地产生实际反射强度测量信号;控制装置(18;18'),所述控制装置构造用于操控所述光二极管装置(12)逐像素地相应于所述待投影图像(50)发射所述可见光(32;32‑1;32‑2;32‑3);并且所述控制装置还构造用于基于所述待投影图像(50)并且基于反射模型来如此控制所述红外二极管装置(14)逐像素地发射所述红外辐射(34),使得对于所述实际反射强度测量信号而言逐像素预期的期望反射强度测量信号对于预确定的像素(54)具有预确定的值。
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