[发明专利]用于放射成像的装置、系统和方法有效
| 申请号： | 201580070073.0 | 申请日： | 2015-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN107530036B | 公开（公告）日： | 2021-02-19 |
| 发明（设计）人： | 张宏军 | 申请（专利权）人： | 上海联影医疗科技股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/00 | 分类号： | A61B6/00;G01N23/00 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 刘葛 |
| 地址： | 上海市嘉定区*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 提供一种放射成像系统和方法。该系统包括放射源、探测器(605,803,1303)和第一格栅元件(603,703,1301)。探测器(605,803,1303)上包含许多探测器单元(802)。第一格栅元件(603,703,1301)的位置在放射源和探测器单元(802)之间。第一格栅元件(603,703,1301)包括许多个射线穿过区(603‑B)。放射源发出的射线穿过第一格栅元件(603,703,1301)上的至少一个射线穿过区(603‑B)，并由至少一个探测器单元(802)上的有效区域(901)接收到。通过调节第一格栅元件(603,703,1301)可以调节有效区域(901)。放射源、第一格栅元件(603,703,1301)和探测器单元(802)相结合可用于检测一个目标。该方法可以包括通过调节第一格栅元件(603,703,1301)来调节探测器(605,803,1303)上的有效区域(901)。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 放射 成像 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种系统，包括：一个放射源；一个探测器，探测器包含复数个探测器单元；和位于放射源和探测器单元之间的第一格栅元件，第一格栅元件包含许多个射线穿过区；放射源发出的射线穿过第一格栅元件上的至少一个射线穿过区，并由至少一个探测器单元上的有效区域接收到；可以通过调节第一格栅元件来调节有效区域；放射源、第一格栅元件和探测器单元组合使用可用于检测一个目标。
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