[发明专利]多阻挡层封装叠层有效
申请号: | 201580071038.0 | 申请日: | 2015-11-17 |
公开(公告)号: | CN107112200B | 公开(公告)日: | 2021-03-26 |
发明(设计)人: | A·M·贾恩;J-C·吉龙 | 申请(专利权)人: | SAGE电致变色显示有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 章蕾 |
地址: | 美国明*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于封装设备以限制在设备与外界环境之间的环境元素渗透的方法,其包括向设备施加多个阻挡层并且在每次层施加之前独立地清洁当前暴露的设备表面,从而产生包括封装叠层的设备,其中封装叠层包括阻挡层的多层叠层。每次独立的清洁从当前暴露的设备表面去除颗粒,从而暴露阻挡层中的由颗粒形成的间隙,随后施加的阻挡层至少部分地填充间隙,以便限制经由间隙空间穿过封装叠层的渗透路径。施加以形成叠层的阻挡层的数量可以基于判定的概率,判定的概率为特定数量的阻挡层的叠层与穿过叠层的至少一定数量的连续渗透路径无关的概率。 | ||
搜索关键词: | 阻挡 封装 | ||
【主权项】:
一种设备,包括:基板;以及多层封装叠层,所述多层封装叠层施加于所述基板并且构造成限制在所述基板与周围环境之间的环境元素渗透,其中,所述多层封装叠层包括:多个连贯地施加的薄膜阻挡层,其中,至少一个单独的薄膜阻挡层在在前施加的薄膜阻挡层的当前暴露的层表面被至少部分地清除颗粒以暴露在所述当前暴露的层表面中由所述颗粒形成的间隙空间之后施加于所述当前暴露的层表面,使得所述至少一个单独的薄膜阻挡层至少部分地填充所述当前暴露的层表面中的所述暴露的间隙空间。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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