[发明专利]用于纹波消除滤波器的无创评估的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201580072026.X 申请日: 2015-12-17
公开(公告)号: CN107110936B 公开(公告)日: 2020-03-03
发明(设计)人: L.弗里戈;M.弗里曼;M.维扎;D.林克;M.罗斯;S.韦伯;A.帕诺斯 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: G01R33/385 分类号: G01R33/385
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郑浩;张涛
地址: 美国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种方法,所述方法包括推导输入至纹波消除滤波器的信号的第一功率谱密度函数;推导同时地从纹波消除滤波器输出的信号的第二功率谱密度函数;根据纹波消除滤波器的谱抑制图像而对第一功率谱密度进行频率整形,以获得测试功率谱密度;以及在测试功率谱密度函数和第二功率谱密度函数在预定的标准内未能匹配的情况下,指示纹波消除滤波器的降级的性能。
搜索关键词: 用于 消除 滤波器 评估 方法 装置
【主权项】:
一种方法,包含:推导输入至纹波消除滤波器的信号的第一功率谱密度函数;推导同时地从所述纹波消除滤波器输出的信号的第二功率谱密度函数;根据所述纹波消除滤波器的谱抑制图像而对所述第一功率谱密度进行频率整形,以获得测试功率谱密度;以及在所述测试功率谱密度函数和所述第二功率谱密度函数在预定的标准内未能匹配的情况下,指示所述纹波消除滤波器的降级的性能。
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