[发明专利]质谱分析装置及离子迁移率分析装置

摘要

本发明在从ESI用离子化探针(5)喷出的喷雾流的前方配置圆筒状的辅助电极6和同样为圆筒状的反射电极(7)，并使加热毛细管(8)的入口端(8a)延伸至两电极(6、7)之间的空间为止。辅助电极(6)及加热毛细管(8)设为接地电位，对反射电极(7)施加与测定对象离子同极性的直流电压。由此，在两电极(6、7)之间的空间内形成反射电场，而且在入口端(8a)附近形成会聚电场，所述反射电场使随喷雾流行进的来源于试样成分的离子、带电液滴反射，所述会聚电场使离子会聚在该入口端(8a)。由此，来源于试样成分的离子从气流中分离出来并聚集在入口端(8a)，从而被吸入至加热毛细管(8)中并送至真空室。结果，可将比以往多的离子提供给质谱分析，从而可提高分析灵敏度。

主权项

1.一种质谱分析装置，其具备：离子源，其包含将液体试样喷雾至大气压环境的离子化室内的离子化探针；以及离子导入部，其将由该离子源生成的、来源于从所述离子化探针喷雾出来的试样液滴中所含的成分的离子从所述离子化室送至真空室，该质谱分析装置是以如下方式决定所述离子化探针及所述离子导入部的配置而成：即，来自所述离子化探针的液体试样的喷雾方向与由所述离子导入部决定的来自所述离子化室内的离子的导入方向正交，该质谱分析装置的特征在于，具备：a)辅助电极，其以围绕来自该离子化探针的喷雾流的中心轴的方式呈筒状地设置在来自所述离子化探针的试样液滴的喷雾方向上而且比所述离子导入部的入口端更靠近所述离子化探针的位置；b)反射电极，其以围绕来自该离子化探针的喷雾流的中心轴的方式呈筒状地设置在来自所述离子化探针的试样液滴的喷雾方向上而且比所述离子导入部的入口端更远离所述离子化探针的位置；以及c)电压施加部，其以所述辅助电极的电位为基准，对所述反射电极施加使作为测定对象的离子反射的电压。