[发明专利]用于校准光谱辐射仪的方法有效

专利信息
申请号: 201580075061.7 申请日: 2015-12-01
公开(公告)号: CN107209059B 公开(公告)日: 2020-02-28
发明(设计)人: F·弗兰克;R·扬;J·雷比格;R·黑林 申请(专利权)人: 仪器系统光学测量技术有限责任公司
主分类号: G01J3/10 分类号: G01J3/10;G01J3/52;G01J3/28
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 郭毅
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种用于校准光谱辐射仪(1)的方法,所述方法具有以下方法步骤:通过借助待校准的光谱辐射仪(1)测量至少一个标准光源(4)的辐射来接收光测量数据;通过将所接收的光测量数据与所述标准光源(4)的已知数据进行比较,由所述光测量数据推导校准数据;并且根据所述校准数据校准所述光谱辐射仪(1)。本发明的任务是,提供一种用于校准所述光谱辐射仪(1)的可靠并且可行的方法。尤其应该以简单并且可靠的方式制造位于不同位置(9,10,11)上的光谱辐射仪(1)的同步性。为此,本发明提出,通过如下方式检验标准光源对于校准的有效性、即可用性:将所述标准光源(4)的光测量数据与一个或多个其他相同类型的标准光源(4)的光测量数据进行比较,其中,如果所述标准光源(4)的光测量数据彼此的偏差低于预给定的边界值,则确定所述标准光源(4)的有效性,和/或借助两个相同或不同类型的两个或更多个标准光谱辐射仪(1′)测量所述标准光源(4),其中,如果借助所述不同的标准光谱辐射仪(1′)所接收的光测量数据彼此的偏差低于预给定的边界值,则确定所述标准光源(4)的有效性。
搜索关键词: 用于 校准 光谱 辐射 方法
【主权项】:
暂无信息
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