[发明专利]测量处理装置、X射线检查装置、测量处理方法、测量处理程序及结构物的制造方法在审
| 申请号： | 201580077303.6 | 申请日： | 2015-03-03 |
| 公开（公告）号： | CN107407646A | 公开（公告）日： | 2017-11-28 |
| 发明（设计）人： | 八嶋紘宽;早野史伦;河井章利 | 申请（专利权）人： | 株式会社尼康 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司11019 | 代理人： | 寿宁,张华辉 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种用于X射线检查装置的测量处理装置，具备区域信息获得部，其获得基于透射第一被测量物的一部分即第一区域的X射线的第一区域信息；存储部，其存储比第一区域大的、与第二被测量物的第二区域有关的第二区域信息；判断部，其基于第一区域信息和第二区域信息，判断与第一区域对应的区域是否包括在第二区域中。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 处理 装置 射线 检查 方法 程序 结构 制造 | ||
【主权项】：
一种测量处理装置，其用于X射线检查装置，具备：区域信息获得部，其获得基于透射第一被测量物的一部分即第一区域的X射线的第一区域信息；存储部，其所述存储比第一区域大的、与第二被测量物的第二区域有关的第二区域信息；判断部，其基于所述第一区域信息和所述第二区域信息，判断与所述第一区域对应的区域是否包括在所述第二区域中。
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