[发明专利]信息管理装置及信息管理方法有效

专利信息
申请号: 201580078076.9 申请日: 2015-03-30
公开(公告)号: CN107432118B 公开(公告)日: 2019-10-25
发明(设计)人: 藤井公夫 申请(专利权)人: 株式会社富士
主分类号: H05K13/04 分类号: H05K13/04;H01L21/52;H01L21/677;H05K13/08
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆德骏;谢丽娜
地址: 日本爱知*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 当将从晶片选取的元件安装于基材时,管理装置取得包含与安装元件的选取位置相关的选取位置信息的选取源信息和包含与安装元件的安装位置相关的安装位置信息的安装目的地信息,将两信息相互建立关联而得到的安装实际作业信息存储于HDD(93)。因此,如果参照存储于HDD(93)的安装实际作业信息,根据安装元件的安装目的地信息追寻选取源信息,则能够确定出被选取了安装元件的晶片上的选取位置。
搜索关键词: 信息管理 装置 方法
【主权项】:
1.一种信息管理装置,是从被分割成多个元件的晶片选取各元件而向基材安装的安装系统中的、管理与安装相关的信息的信息管理装置,所述信息管理装置具备:选取源信息取得单元,取得选取源信息,所述选取源信息包含与所述晶片上的所述元件的选取位置相关的选取位置信息和用于识别所述晶片的识别信息;安装目的地信息取得单元,取得安装目的地信息,所述安装目的地信息包含与所述基材上的所述元件的安装位置相关的安装位置信息和用于识别所述基材的识别信息;存储单元,当所述元件被安装于所述基材时,存储将所安装的安装元件的所述选取源信息与该安装元件的所述安装目的地信息建立关联而得到的安装实际作业信息;不良结果信息取得单元,接收被安装了所述元件的所述基材的检查结果,在该检查结果是所述基材的安装元件产生了不良的含义的不良结果的情况下,取得不良结果信息,所述不良结果信息包含该被判断为不良的不良基材的识别信息和该被判断为不良的不良元件的安装位置信息;及选取源信息确定单元,基于所述不良基材的识别信息和所述不良元件的安装位置信息,且参照所述安装实际作业信息,来确定选取出了所述不良元件的选取源晶片的识别信息和该选取源晶片上的所述不良元件的选取位置信息。
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