[发明专利]半导体器件及扫描测试方法有效
| 申请号： | 201580078374.8 | 申请日： | 2015-04-16 |
| 公开（公告）号： | CN107430166B | 公开（公告）日： | 2020-01-10 |
| 发明（设计）人： | 前田洋一;松嶋润;和田弘树 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 11256 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 陈伟;闫剑平 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的半导体器件(9)具备：FIFO(91)；测试数据写入电路(92)，其与第一时钟信号(910)同步地将多个测试数据依次写入FIFO(91)；测试控制电路(93)，其与测试数据写入电路(92)将多个测试数据向FIFO(91)的写入并行地，与第二时钟信号(920)同步地实施依次读出在FIFO(91)中保存的多个测试数据的被测试电路(94)的扫描测试，其中，第二时钟信号(920)与第一时钟信号(910)不同步。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体器件 扫描 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体器件，其特征在于，具备：/nFIFO；/n测试数据写入电路，其与第一时钟信号同步地将多个测试数据依次写入所述FIFO；以及/n测试控制电路，其与基于所述测试数据写入电路进行的将所述多个测试数据向所述FIFO写入并行地，实施与第二时钟信号同步地依次读出在所述FIFO中保存的多个测试数据的被测试电路的扫描测试，其中，所述第二时钟信号与所述第一时钟信号不同步，/n所述被测试电路具有用于实施所述扫描测试的扫描链，通过与所述第二时钟信号同步地进行扫描移位动作，从所述FIFO读出测试数据并扫描输入所述扫描链，并且将所述扫描链所保持的测试结果数据扫描输出，/n所述测试数据写入电路与所述第一时钟信号同步地，一并将所述多个测试数据和与该多个数据的每一个对应的多个屏蔽数据依次写入所述FIFO，/n所述半导体器件还具备测试结果处理电路，所述测试结果处理电路被输入有从所述扫描链扫描输出的测试结果数据，/n所述测试结果处理电路具有屏蔽电路，所述屏蔽电路在所述测试数据被扫描输入所述扫描链时，从所述FIFO读出与所述测试数据对应的屏蔽数据，并利用所读出的屏蔽数据将在该测试数据被扫描输入所述扫描链时扫描输出的测试结果数据遮蔽，由此以固定在低或高的状态的方式进行变更。/n
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