[发明专利]半导体装置和诊断测试方法有效
| 申请号： | 201580078737.8 | 申请日： | 2015-06-18 |
| 公开（公告）号： | CN107430167B | 公开（公告）日： | 2021-02-02 |
| 发明（设计）人： | 前田洋一;松嶋润;铃木贵幸 | 申请（专利权）人： | 瑞萨电子株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 李辉;董典红 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 根据本发明的半导体装置(1)包括具有扫描链的待测试电路(2)以及通过使用扫描链执行待测试电路的扫描测试的第一测试控制装置(3)和第二测试控制装置(4)。第二测试控制装置(4)执行待测试电路(2)的第二扫描测试，待测试电路(2)向第一测试控制装置(3)提供指令，以在执行第二扫描测试之后执行第一扫描测试，并且第一测试控制装置(3)响应于来自待测试电路的指令(2)执行待测试电路(2)的第一扫描测试。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 装置 诊断 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种半导体装置，包括：待测试电路，具有扫描链；和第一测试控制装置和第二测试控制装置，通过使用所述扫描链执行所述待测试电路的扫描测试，其中所述第二测试控制装置执行所述待测试电路的第二扫描测试，所述待测试电路向所述第一测试控制装置提供指令，以在执行所述第二扫描测试之后执行第一扫描测试，以及所述第一测试控制装置响应于来自所述待测试电路的指令执行所述待测试电路的第一扫描测试。
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