[发明专利]光学测定装置有效
| 申请号： | 201580079127.X | 申请日： | 2015-04-24 |
| 公开（公告）号： | CN107532992B | 公开（公告）日： | 2020-09-11 |
| 发明（设计）人： | 长井悠佑 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/01 | 分类号： | G01N21/01;G01N21/05 |
| 代理公司： | 上海华诚知识产权代理有限公司 31300 | 代理人： | 肖华 |
| 地址： | 日本国京都府京*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 以光在流动池(2)的外表面反复反射地方式从光照射部(1)向流动池(2)照射测定光，并以与流动池(2)的外表面接触的方式设置由接合部(32)和受光部(31)构成的检测部(3)。由于接合部(32)由折射率比流动池(2)的壁面的折射率大的材料形成，因此流动池(2)内的光在接合部(32)的接触位置被取出，并到达受光部(31)被检测。通过使检测部(3)的安装位置在流动池(2)的轴方向上移动，使得到达至检测部(3)为止的测定光的光路长度变化。因此，能够不更换流动池、仅通过变更检测部(3)的安装位置来调整光路长度，进行与分析目的(试样的浓度不同)相应的高灵敏度的吸光测定。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测定 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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