[发明专利]表面增强发光电场生成底座有效

专利信息
申请号: 201580079511.X 申请日: 2015-07-29
公开(公告)号: CN107567583B 公开(公告)日: 2020-09-22
发明(设计)人: S·巴塞罗;葛宁;李智勇 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: G01N21/65 分类号: G01N21/65;G01N21/64;G01N21/01
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 王洪斌;陈岚
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一个示例中提供的是一种分析物检测装置,分析物检测装置包括表面增强发光(SEL)结构。电介质层在SEL结构下面。电场生成底座在电介质层下面。电场生成底座在SEL结构周围施加电场以将带电离子吸引到SEL结构。
搜索关键词: 表面 增强 发光 电场 生成 底座
【主权项】:
一种分析物检测装置,包括:表面增强发光(SEL)结构;SEL结构下层的电介质层;以及电介质层下层的电场生成底座,电场生成底座在SEL结构周围施加电场以将带电离子吸引到SEL结构。
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