[发明专利]高压质谱测定的电喷射离子化接口和相关方法在审
| 申请号： | 201580079949.8 | 申请日： | 2015-05-12 |
| 公开（公告）号： | CN107636797A | 公开（公告）日： | 2018-01-26 |
| 发明（设计）人： | 约翰·迈克尔·拉姆齐;小威廉·麦凯·吉利兰 | 申请（专利权）人： | 北卡罗来纳-查佩尔山大学 |
| 主分类号： | H01J49/16 | 分类号： | H01J49/16;B01L3/00;H01J49/42 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人： | 唐文静 |
| 地址： | 美国北卡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 电喷射离子化(ESI)质谱仪分析系统包括具有至少一个发射器的ESI装置，所述发射器配置为电喷射离子；以及与所述ESI装置的至少一个发射器流体连通的质谱仪。所述质谱仪包括保持在真空腔室中的质量分析器。所述真空腔室配置为在操作期间具有约50毫托或以上的较大(背景/气体)压力。在操作期间，所述ESI装置配置为(a)将离子电喷射到所述真空腔室外部的且与附接至所述真空腔室的入口装置相邻的处于大气压下的空间区域，其中所述入口装置吸入在具有所述质量分析器的真空腔室外部的电喷射离子，并且将所述离子释放到具有所述质量分析器的真空腔室中；或者(b)将离子直接电喷射到具有所述质量分析器的真空腔室中。 | ||
| 搜索关键词： | 高压 测定 喷射 离子化 接口 相关 方法 | ||
【主权项】：
一种电喷射离子化(ESI)质谱仪分析系统，包括：ESI装置，具有至少一个发射器，所述发射器配置为电喷射离子；以及与所述ESI装置的所述至少一个发射器流体连通的质谱仪，包括：保持在真空腔室中的质量分析器，其中所述真空腔室配置为在操作期间具有约50毫托或以上的高压；以及探测器，与具有所述质量分析器的真空腔室中的所述质量分析器连通，其中在操作期间，所述ESI装置配置为：(a)将离子电喷射到所述真空腔室外部的、大气压下的空间区域中，所述空间区域与附接至所述真空腔室的入口装置相邻，其中所述入口装置吸入在具有所述质量分析器的真空腔室外部的电喷射离子，并且将所述离子释放到具有所述质量分析器的真空腔室中；或者(b)将离子直接电喷射到具有所述质量分析器的真空腔室中。
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