[发明专利]检查装置有效

专利信息
申请号: 201580081598.4 申请日: 2015-07-15
公开(公告)号: CN107852856B 公开(公告)日: 2020-10-09
发明(设计)人: 泽田利幸;岩岛贤史 申请(专利权)人: 株式会社富士
主分类号: H05K13/08 分类号: H05K13/08;G01R31/00
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 穆德骏;谢丽娜
地址: 日本爱知*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 在检查装置中,提高元件的电气特性的测定精度。检查装置包括:保持台(32);一对测定件(34、36),能够把持被该保持台(32)保持的元件(s)来测定电气特性;及相对移动装置,使保持台(32)与一对测定件(34、36)彼此地相对移动。在元件(s)被一对测定件(34、36)夹持的状态(b)下,通过使保持台(32)移动而使元件(s)离开保持台(32)设定值以上,并以该测定状态(c)测定电气特性。其结果是,即使保持台(32)是由导电材料制造而成的,也能够减少对元件(s)的影响,能够高精度地测定电气特性。
搜索关键词: 检查 装置
【主权项】:
一种检查装置,其特征在于,所述检查装置设于拾取由元件供给装置供给的元件并向电路基板安装的安装机,所述检查装置包括:保持台,能够保持元件;一对测定件,形成为能够彼此接近或离开,并能够夹着所述元件来测定该元件的电气特性;保持台移动装置,使所述保持台移动;及保持台移动控制装置,控制该保持台移动装置,并且,所述保持台移动控制装置包括从所述一对测定件把持被所述保持台保持的所述元件的夹持状态使所述保持台离开所述元件设定值以上而处于测定所述元件的电气特性的测定状态的测定时控制部。
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