[发明专利]晶圆清洗装置和方法在审
申请号: | 201580083409.7 | 申请日: | 2015-09-30 |
公开(公告)号: | CN108140595A | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 张晓燕;吴均;王晖;陈福平 | 申请(专利权)人: | 盛美半导体设备(上海)有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/02;B08B3/04;B08B7/04 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 陆嘉 |
地址: | 201203 上海市浦东新*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明揭示了一种清洗封装晶圆(1000)的装置(2000,3000,9000)。装置(2000,3000,9000)包括:保持至少两片晶圆(1000)的卡盘(2001,3001,9001),该至少两片晶圆(1000)与卡盘(2001,3001,9001)的中心有一段距离,每片晶圆(1000)的表面有多个微小结构(1003);驱动卡盘(2001,3001,9001)转动的驱动装置(2002,3002,9002);以及至少一个向晶圆(1000)喷洒流体以清洗或干燥晶圆(1000)的喷嘴(2003,2004,3003,3004,9003,9004)。本发明还揭示了一种晶圆(1000)清洗方法。方法包括:在卡盘(2001,3001,9001)上装载至少两片晶圆(1000),该至少两片晶圆(1000)与卡盘(2001,3001,9001)的中心有一段距离,每片晶圆(1000)的表面有多个微小结构(1003);驱动卡盘(2001,3001,9001)以一转速转动;向晶圆(1000)喷洒流体以清洗或干燥晶圆(1000)。 | ||
搜索关键词: | 片晶 晶圆 清洗 卡盘 驱动卡盘 微小结构 一段距离 流体 喷洒 晶圆清洗装置 驱动装置 转速转动 喷嘴 种晶 封装 转动 装载 | ||
【主权项】:
一种晶圆清洗装置,其特征在于,包括:卡盘,被配置为保持至少两片晶圆,该至少两片晶圆与卡盘的中心有一段距离,每片晶圆的表面上有多个微小结构;驱动装置,被配置为驱动卡盘转动;至少一个喷嘴,被配置为向晶圆喷洒流体以清洗或干燥晶圆;其中,驱动装置驱动卡盘在清洗过程中以低转速和高转速交替地转动,其中,低转速Nl低于临界转速,高转速高于临界转速,其中,临界转速由晶圆的直径、晶圆和卡盘中心之间的最短距离、晶圆表面微小结构的高度、卡盘转动的时间、流体密度以及流体表面张力系数决定。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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