[发明专利]能够限制载流子扩散的X射线检测器在审
| 申请号： | 201580083732.4 | 申请日： | 2015-10-14 |
| 公开（公告）号： | CN108139488A | 公开（公告）日： | 2018-06-08 |
| 发明（设计）人： | 曹培炎;刘雨润 | 申请（专利权）人： | 深圳帧观德芯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/20 | 分类号： | G01T1/20 |
| 代理公司： | 深圳市六加知识产权代理有限公司 44372 | 代理人： | 罗水江 |
| 地址： | 518054 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 公开了一种适合于检测X射线的装置。在一个示例中，该装置包括X射线吸收层(110)，其包括：像素(30)和第二像素(31)，以及跨X射线吸收层(110)的厚度延伸并且包围像素(30,31)的材料层(301,303)或真空，其中该材料层(301)配置成防止像素(30,31)中的载流子移动通过材料层(301)。在另一个示例中，装置包括X射线吸收层(110)，其包括配置成吸收X射线的半导体的多个列(33,34,35)，和跨X射线吸收层(110)的厚度延伸并且包围每个列(33,34,35)的材料层(301,302)或真空，其中该材料层(301)配置成防止载流子在两个列(33,34,35)之间转移。 | ||
| 搜索关键词： | 材料层 像素 厚度延伸 配置 载流子 载流子扩散 载流子移动 包围 检测X射线 半导体 吸收 | ||
【主权项】：
一种适合于检测X射线的装置，其包括：X射线吸收层，其包括：像素，跨所述X射线吸收层的厚度延伸并且包围所述像素的材料层或真空，其中所述材料层或真空配置成防止所述像素中的载流子移动通过所述材料层。
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