[发明专利]介质对齐校准有效
| 申请号： | 201580085011.7 | 申请日： | 2015-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN108367578B | 公开（公告）日： | 2021-02-12 |
| 发明（设计）人： | 绍拉卜·比德;瑞菲尔·冈萨雷斯;卢克·P·索斯诺夫斯基 | 申请（专利权）人： | 惠普发展公司有限责任合伙企业 |
| 主分类号： | B41J29/38 | 分类号： | B41J29/38;B41J29/393;B41J13/00;B65H7/20 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 孟旸;康泉 |
| 地址： | 美国德*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 介质对齐校准系统基于存储在缓冲器中的用于介质类型的预定数目的一组成对的前缘偏斜值和后缘偏斜值的线性回归，确定斜率和截距，斜率将后缘偏斜值与其成对的前缘偏斜值相关联，截距代表原生偏斜。基于斜率和截距，用于介质类型的介质模型基于线性回归被更新，以调整介质馈送机构中的一对对齐的介质馈送辊的差速，从而将将来的原生偏斜以及缓冲器中将来成对的前缘偏斜值和后缘偏斜值两者校正到期望的操作窗口内。 | ||
| 搜索关键词： | 介质 对齐 校准 | ||
【主权项】：
1.一种校准介质对齐系统的方法，包括：针对介质类型，将一组成对的前缘偏斜值和后缘偏斜值存储在缓冲器中；基于预定数目的所述一组成对的前缘偏斜值和后缘偏斜值的线性回归，确定斜率和截距，所述斜率将后缘偏斜值和与该后缘偏斜值成对的前缘偏斜值相关联，所述截距代表原生偏斜；以及根据所述斜率和所述截距，基于所述线性回归更新用于所述介质类型的介质模型，以调整介质馈送机构中的一对对齐的介质馈送辊的差速，从而将将来的原生偏斜以及所述缓冲器中将来成对的前缘偏斜值和后缘偏斜值两者校正到期望的操作窗口内。
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