[发明专利]光反射器在审
申请号: | 201580085223.5 | 申请日: | 2015-12-08 |
公开(公告)号: | CN108369969A | 公开(公告)日: | 2018-08-03 |
发明(设计)人: | 大野文昭;小池诚二 | 申请(专利权)人: | 新日本无线株式会社 |
主分类号: | H01L31/173 | 分类号: | H01L31/173 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 吕琳;朴秀玉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明实现一种光反射器,其可缩短距检测对象物的距离,对更近的检测对象物进行位置检测,能有助于配置空间的缩小化。光反射器(10)具备:板状的基板(11)、安装于基板(11)的发光元件(13)及受光元件(14)、密封发光元件(13)及受光元件(14)的透光性树脂层(12)、以及设置于发光元件(13)与受光元件(14)之间的遮光部(21),遮光部(21)形成为能使光的一部分在发光元件(13)与受光元件(14)之间经由透光性树脂层(12)直接进行收发的高度。 | ||
搜索关键词: | 受光元件 发光元件 光反射器 透光性树脂层 检测对象 遮光部 基板 密封发光元件 配置空间 位置检测 板状 收发 | ||
【主权项】:
1.一种光反射器,其具备:板状的基板;安装于所述基板的发光元件和受光元件;密封所述发光元件和所述受光元件的透光性树脂层;以及设置于所述发光元件与所述受光元件之间的遮光部,所述遮光部形成为能使光的一部分在所述发光元件与所述受光元件之间经由所述透光性树脂层直接进行收发的高度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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