[发明专利]具有补偿温度变化的光学平台的测量仪器有效

专利信息
申请号: 201580085385.9 申请日: 2015-12-15
公开(公告)号: CN108474655B 公开(公告)日: 2020-08-28
发明(设计)人: 约翰·凡马特恩 申请(专利权)人: 天宝公司
主分类号: G01C1/02 分类号: G01C1/02;G02B7/00;G01S7/481;G01C15/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 张瑞;杨明钊
地址: 瑞典丹*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及一种测量仪器(300),其包括底座(320)、具有光轴(315)的光学系统(310)、附接到底座(320)的平台(350)以及光学部件(330)。光学系统(310)可以适合于接收和/或发送光。光学部件(330)位于光轴(315)处或接近光轴(315)。接收的和/或发送的光穿过光学部件(330)。平台(350)包括致动构件(370),该致动构件(370)布置成作用在光学部件(330)上以用于使其移动。致动构件(370)可以是响应于温度的,以便响应于温度变化而引起光学部件(330)相对于底座(320)沿光轴(315)的位移。
搜索关键词: 具有 补偿 温度 变化 光学 平台 测量 仪器
【主权项】:
1.一种测量仪器,包括:底座;具有光轴的光学系统,所述光学系统适合于接收和/或发送光;光学部件,其位于所述光轴处或接近所述光轴,接收的和/或发送的光穿过所述光学部件;和附接到所述底座的平台,所述平台包括致动构件,所述致动构件布置成作用在所述光学部件上以用于使所述光学部件移动;所述致动构件是响应于温度的,以便响应于温度变化而引起所述光学部件相对于所述底座沿所述光轴的位移。
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