[其他]LED芯片老化测试装置有效
| 申请号： | 201590000164.2 | 申请日： | 2015-10-02 |
| 公开（公告）号： | CN206038837U | 公开（公告）日： | 2017-03-22 |
| 发明（设计）人： | 魏晓敏 | 申请（专利权）人： | 魏晓敏 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518000 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种LED芯片老化测试装置，包括设置有多个LED芯片检测工位的老化架，以及用于对所述检测工位供电的电源线路，所述LED芯片老化测试装置还包括容置所述老化架的封闭式集热腔，以及安装于所述集热腔内部的抽真空系统。这样，将LED芯片放入真空环境中，可对空气中氧分子进行较高程度隔离，并且无需浪费氮气而实验成本低。 | ||
| 搜索关键词： | led 芯片 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种LED芯片老化测试装置，包括：设置有多个LED芯片检测工位的老化架，以及用于对所述检测工位供电的电源线路，其特征在于，所述LED芯片老化测试装置还包括：容置所述老化架的封闭式集热腔，以及安装于所述集热腔内部的抽真空系统。
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