[其他]光学对准的集光系统和测量系统有效

专利信息
申请号: 201590001154.0 申请日: 2015-10-28
公开(公告)号: CN208443705U 公开(公告)日: 2019-01-29
发明(设计)人: 米娜·鲁哈尼;蒂莫西·韦恩·彼得森 申请(专利权)人: 贝克顿·迪金森公司
主分类号: G01N15/14 分类号: G01N15/14
代理公司: 北京友联知识产权代理事务所(普通合伙) 11343 代理人: 尚志峰;汪海屏
地址: 美国新*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 实用新型提供一种光学对准的集光系统和测量系统。本公开的多个方面包括用于对集光系统的部件进行光学对准的方法。根据某些实施例的方法包括:通过将定位在具有第一透镜的连接器上的第一磁体和第一对准器连接至定位在具有第二透镜的光学调节部件上的第二磁体和第二对准器来将所述连接器耦合至所述光学调节部件,从而使得将所述第一磁体和所述第一对准器连接至所述第二磁体和所述第二对准器足以对所述连接器透镜进行定位以便与所述光学调节部件透镜光学地同心。还描述了通过所述主题方法来光学对准的集光系统,所述集光系统包括与光学调节部件光学对准的流动池喷嘴。还提供了用于对由样本(例如,在流动流中)发射的光进行测量的系统和方法。
搜索关键词: 光学对准 集光系统 光学调节 对准器 透镜 连接器 测量系统 本实用新型 连接器耦合 多个方面 透镜光学 喷嘴 流动池 样本 同心 测量 发射 流动
【主权项】:
1.一种光学对准的集光系统,包括:连接器,所述连接器包括:第一透镜;第一对准器;以及第一磁体;以及光学调节部件,所述光学调节部件包括:第二透镜;第二对准器;以及第二磁体,其中,当所述第一对准器耦合至所述第二对准器并且所述第一磁体连接至所述第二磁体时,所述第一透镜与所述第二透镜光学地同心。
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