[发明专利]一种用于对基板进行检测的预警系统及生产设备在审
申请号: | 201610005515.X | 申请日: | 2016-01-04 |
公开(公告)号: | CN105655267A | 公开(公告)日: | 2016-06-08 |
发明(设计)人: | 黎午升;李正亮;刘震 | 申请(专利权)人: | 京东方科技集团股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;G02F1/13 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100015 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于对基板进行检测的预警系统及生产设备,包括:发射单元和控制单元;其中,发射单元提供第一基准光和第二基准光,第一基准光传输至控制单元,第二基准光经过基板的调制生成一束测试光,测试光传输至控制单元;控制单元获取第一基准光的功率和测试光的功率,将第一基准光的功率与测试光的功率进行比较,根据比较结果,判断基板表面是否具有异物。这样,可以通过检测基板表面上的异物情况,例如是否具有光刻胶,对基板表面上的异物起到预警作用,防止了光刻胶等异物对清洗设备、沉积设备等其他生产设备造成影响,有利于生产设备的维护和保养。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 进行 检测 预警系统 生产 设备 | ||
【主权项】:
一种用于对基板进行检测的预警系统,其特征在于,包括:发射单元和控制单元;其中,所述发射单元,用于提供第一基准光和第二基准光,所述第一基准光传输至所述控制单元,所述第二基准光经过所述基板的调制生成一束测试光,所述测试光传输至所述控制单元;所述控制单元,用于获取所述第一基准光的功率和所述测试光的功率,将所述第一基准光的功率与所述测试光的功率进行比较,根据比较结果,判断所述基板表面是否具有异物。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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