[发明专利]一种白光同轴干涉相移显微镜系统和显微成像方法有效

专利信息
申请号: 201610008623.2 申请日: 2016-01-04
公开(公告)号: CN105467571B 公开(公告)日: 2017-12-15
发明(设计)人: 王翰林;吕晓旭;钟丽云 申请(专利权)人: 华南师范大学
主分类号: G02B21/00 分类号: G02B21/00;G02B21/36;G02B21/02;G02B21/06
代理公司: 深圳市智圈知识产权代理事务所(普通合伙)44351 代理人: 韩绍君
地址: 510631 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种白光同轴干涉相移显微镜系统,其包括显微镜装置和相位成像装置,相位成像装置包括光源、第一透镜、透射式纯振幅空间光调制器、第二透镜、第三透镜、反射式纯相位空间光调制器、第四透镜以及相机,透射式纯振幅空间光调制器加载有一个和图像的频谱相匹配的图样用于降低低频信息的光强,以使低频信息和高频信息的光强相当;反射式纯相位空间光调制器的入射角度<10°;反射式纯相位空间光调制器上加载有相移量不同的多个图样以调制所述低频信息。本发明还提供了基于白光同轴干涉相移显微镜系统的显微成像方法。
搜索关键词: 一种 白光 同轴 干涉 相移 显微镜 系统 显微 成像 方法
【主权项】:
一种白光同轴干涉相移显微镜系统,其包括显微镜装置和相位成像装置,其特征在于:所述相位成像装置包括光源、第一透镜、透射式纯振幅空间光调制器、第二透镜、第三透镜、反射式纯相位空间光调制器、第四透镜以及相机,所述光源发出的光依次经过所述显微镜装置、第一透镜、透射式纯振幅空间光调制器、第二透镜、第三透镜、反射式纯相位空间光调制器以及第四透镜后,形成的图像由所述相机接收;所述透射式纯振幅空间光调制器加载有一个和所述图像的频谱相匹配的图样用于降低低频信息的光强,以使所述低频信息和高频信息的光强相同;所述反射式纯相位空间光调制器的入射角度<10°;所述第一、第二透镜组成一个四倍焦距系统,所述第二、第三透镜组成一个四倍焦距系统,所述第三、第四透镜组成一个四倍焦距系统;所述反射式纯相位空间光调制器上加载有相移量不同的多个图样以调制所述低频信息。
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