[发明专利]自适应产生芯片最佳性能配置的方法及装置

摘要

本发明提供一种自适应产生芯片最佳性能配置的方法和装置，电路开机启动之后,自动设置好测试目标频率对应的频率配置；等待输出到芯片存储单元的时钟稳定后，开始进行带EMA扫描的EMA训练流程；在EMA训练流程完成后,内部的EEPROM会存储好该频率下最佳的EMA配置值供芯片正常工作时配置使用。本发明使设备一开机就能自动训练查找芯片的最佳性能，其不仅训练算法可选,还可根据每个芯片的SRAM测试结果自动调整EMA配置值并进行记录，可以根据每个芯片的不同的SRAM性能进行不同的EMA配置,在通过训练的基础上同时将每个芯片的SRAM性能最大化,相比当前的技术有明显的优势。

主权项

1.一种自适应产生芯片最佳性能配置的方法，其特征在于：电路开机启动之后,自动设置好测试目标频率对应的频率配置；等待输出到芯片存储单元的时钟稳定后，开始进行带EMA扫描的EMA训练流程；在EMA训练流程完成后,内部的EEPROM会存储好该频率下最佳的EMA配置值供芯片正常工作时配置使用；所述EMA训练流程包括依次进行的写操作扫描测试、读操作扫描测试及读写混合扫描测试；所述写操作扫描测试具体为：11)将EMA配置为111，将EMAW配置为11，将EMAS配置为1，将bist算法选择检测写操作的算法；12)对待测存储器进行专项检测写动作的激励灌入,输出待测存储器的响应结果；13)将待测存储器的响应结果和期望结果进行对比，看待测存储器在专项检测写动作的激励下得到的响应和预期是否一致,如果对比一致则输出检测通过的结果,否则输出测试错误并且写操作错误的结果；14)如果测试错误,表明之前一次的写相关配置已经是最高配置,则将EMAW值加1写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMAW值供芯片正常工作时使用,然后开始转到读操作扫描测试；如果测试通过,EMAW已经配置到0仍然通过,则将EMAW值0写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMAW值，然后转入读操作扫描测试；否则将EMAW值降低1，回到步骤12)；所述读操作扫描测试具体为：21)将bist算法改为选择检测读动作的算法，EMAW值不再变化,先将EMAS配置为0进行一轮测试；22)对待测存储器进行专项检测读动作的激励灌入,输出待测存储器的响应结果；23)将待测存储器的响应结果和期望结果进行对比,看待测存储器在专项检测读动作的激励下得到的响应和预期是否一致,如果一致则输出检测通过的结果,否则输出测试错误并且读操作错误的结果；24)如果测试错误,表明之前一次的读相关配置已经是最高配置,则将EMAS值1写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMAS值,如果测试通过则将EMAS值0写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMAS值；然后开始读写混合扫描测试；所述读写混合扫描测试具体为：31)将bist算法改为选择检测读写混合动作的算法,EMAW和EMAS值不再变化,将EMA配置减1开始测试；32)对待测存储器进行检测读写动作的激励灌入,然后输出待测存储器的响应结果；33)将待测存储器的响应结果和期望结果进行对比,看待测存储器在检测读写动作的激励下得到的响应和预期是否一致,如果一致则输出检测通过的结果,否则输出测试错误的结果；34)如果是测试通过的结果,则将EMA值减1回到步骤32)继续进行下一次的测试，直到测试错误或者已经达到EMA为0；如果是测试错误的结果,表明之前一次的读写相关配置已经是最高配置,则将测试错误的EMA值加1写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMA值；或者EMA已经配置到0仍然通过,则将EMA值0写入EEPROM中作为此芯片的最佳EMA值；就此EMA最佳配置测试结束。